Das Rasterelekronenmikroskop ermöglicht hiermit eine hochpräzise Analyse Ihrer Probenoberfläche. Die wichtigste Informationsquelle hierzu stellen die so genannten Sekundärelektronen (SE) dar, welche mit einem speziellen in die Hochvakuumkammer hineinragenden SE-Detektor erfasst werden. Die Auflösung wird fast nur durch den erreichbaren Strahldurchmesser bestimmt. Dieser ist vergleichsweise klein, daher erlauben SE-Bilder eine sehr hohe Auflösung. Dies ermöglicht es unseren Experten eine Beurteilung kleinster Nanostrukuren oder Materialrisse in der Probenoberfläche.
Ein weiters wichtiges Abbildungsverfahren ist mit Hilfe unseres Rückstreuelektronendetektors (BSD) möglich. Hierzu werden die vom Objekt zurückgestreuten Primärelektronen mit einem Detektor erfasst. Rückstreuelektronen sind energiereicher als Sekundärelektronen und die Intensität des Signals ist in erster Linie von der mittleren Ordnungszahl des Materials abhängig. Somit ergeben sich sogenannte Materialkontrastbilder welche Rückschlüsse auf die Verteilung verschiedener Materialien oder Elemente im Bild ermöglichen.
Dieser Detektor kombiniert exzellente Energieauflösung mit einem größeren Raumwinkel und mit 30 mm² aktiver Fläche. Er erlaubt auf Grund seines Leichtelementfensters eine Detektion von Elementen mit Ordnungszahlen größer/gleich 5 (Bor).
Sowohl die REM-Aufnahmen als auch das EDX-Spektrum werden anschließend in einem ausführlichen Prüfbericht zusammengefasst und ausführlich ausgewertet.
Somit erhalten Sie die wichtigsten Prüfkriterien und Auswertungen auf einen Blick inklusive ausführlicher Detailseiten mit genaueren Herleitungen.
Unser Standardprüfbericht beinhaltet eine SE/BSD Übersichtaufnahme der Probe, eine SE-Detailaufnahme (1000-fache Vergrößerung) und zwei BSD-Aufnahmen in 50-facher Vergrößerung zur ersten Beurteilung der Oberfläche (Vergrößerungen können variieren).
Ergänzend ist die EDX-Analyse an einer zuvor definierten Stelle der Probenoberfläche Teil des Berichts.
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist ein unverzichtbares Werkzeug für die präzise Oberflächenanalyse, insbesondere bei Serienfertigungen in der Medizintechnik.
- Valide Analyse der Oberflächenreinheit: Identifikation von Verunreinigungen und Defekten auf mikroskopischer Ebene.
- Qualitätssicherung: Gewährleistung, dass Ihre Produkte höchste Standards erfüllen und langfristig zuverlässig sind.
- Erhöhung der Systemsicherheit: Saubere und homogene Oberflächen minimieren das Risiko von Komplikationen bei Implantaten und anderen medizintechnischen Bauteilen.
- Vermeidung von Produktionsfehlern: Frühe Identifikation potenzieller Kontaminationen reduziert Ausschuss und spart Kosten.
- Langjährige Erfahrung: Unsere Expertise in der Analyse von Dental- und Orthopädieimplantaten ermöglicht es uns, potenzielle Schwachstellen gezielt zu identifizieren und gemeinsam mit Ihnen zu beseitigen.
- DAkkS-akkreditierte Prüfberichte: Unsere Prüfberichte erfüllen höchste Anforderungen und sind international anerkannt, was Ihnen zusätzliche Sicherheit und Vertrauen bietet.
- Moderne Technik: Unser Rasterelektronenmikroskop liefert hochauflösende Ergebnisse, die Ihnen die Grundlage für fundierte Entscheidungen und Qualitätsverbesserungen bietet.
Mit unserer REM-Analyse erhalten Sie nicht nur valide Einblicke in Ihre Oberflächen, sondern auch die Sicherheit, dass Ihre Produkte den höchsten Standards entsprechen – für maximale Kundenzufriedenheit und eine langfristige Wettbewerbsfähigkeit.